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FIB掃描電鏡Crossbeam聚焦離子束電鏡
蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可
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蔡司場發(fā)射掃描電鏡Sigma
蔡司掃描電鏡Sigma 系列將場發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術(shù)與出色的用戶體驗相結(jié)合。構(gòu)建您的成像和分析程序并提高工作效率。研究新材料、用于質(zhì)量檢驗的顆�；蛏锘虻刭|(zhì)標本。在高分
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場發(fā)射掃描電子顯微鏡ZEISS GeminiSEM系列
長久以來，蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計可讓您擁有
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鎢燈絲掃描電鏡EVO系列
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列 模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用 EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶
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蔡司MultiSEM高速掃描電子顯微鏡
蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代 借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度�，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯
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蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO18
蔡司掃描電鏡EVO18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。 標配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級形貌與化學分析的全集成式顆粒分析
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